Röntgendiffraktometrie für die Praxis
Seminar
Das Seminar vermittelt Ihnen einen umfassenden Überblick zum aktuellen Stand der Gerätetechnik und die Einsatzmöglichkeiten der röntgenographischen Phasenanalyse.
Die Einflüsse der Probenpräparation und der verwendeten Beugungsgeometrie auf das Analyseergebnis werden vorgestellt. Dabei wird die volle Problembreite berücksichtigt (geringe Mengen, Luftempfindlichkeit, Vorzugsorientierungen, Routineuntersuchungen an Pulvern und kompakten Material, dünne Schichten, zerstörungsfreie Werkstoffprüfung). Nachweisgrenzen und Reflexauflösungen werden bewertet.
Neben der qualitativen Phasenanalyse (Informationsgehalt und Strategien im Umgang mit der Datenbank) werden die einzelnen Methoden der quantitativen Phasenanalyse mit ihren Vor- und Nachteilen und somit unterschiedlichen praktischen Einsatzmöglichkeiten diskutiert. Praxisnah werden (Mikro-) Absorption und Vorzugsorientierungen einbezogen.
Die Rietveldmethode wird in ihren Grundzügen vorgestellt und an Beispielen demonstriert. Fragen zur Bestimmung des amorphen Anteils und der Kristallinität sowie von Kristallitgrößen werden behandelt. Eine Spezifizierung anhand bereitgestellter Daten der Teilnehmer ist erwünscht.
Das Verständnis für die einfache Handhabung von Textur und Eigenspannungen wird vermittelt. Die Möglichkeiten und Probleme bei der Erfassung dynamischer Prozesse (Hochtemperaturmessungen) werden diskutiert.
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